研发能力
米尔在深圳和武汉都设立了研发中心,拥有资深的技术研发团队,其中研发人员占比45%左右,100%以上拥有本科以上学历,研发团队核心骨干和主要成员均长期深耕嵌入式行业,具备10多年嵌入式行业工作经验,有先进的设计理念和针对大批量产品应用的设计实践。产品具备行业领先的创新性、可靠性和稳定性,累计申请专利、著作权及各种认证100多项。
完善、科学、系统的研发管理体系
技术与技能
测试能力
信号测试
涉及标准范围
I2C-bus specification and user manual V.6.pdf
I2S specification Revision June 5 1996.pdf
Part E1 SDIO Simplified Specification Version 2.00
对应芯片数据手册
主要评测项目
电源测试
上下电波形测试
对地阻抗测试
纹波测试
上下电时序测试
Power Noise测试
功耗测试
信号测试
I2C测试
I2S测试
RS232/RS485
网口信号测试
SDIO测试
UART测试
CAN测试
时钟测试
EMC测试
涉及标准范围
EN55032
IEC61000-4
NB/T33008.1
GB/T 17626
主要评测项目
EMI﹕电磁干扰
RE﹕辐射发射
Harmonics﹕谐波电流
Flicker﹕闪烁
CE﹕传导发射
EMS﹕电磁敏感
RS﹕辐射抗扰度
EFT/B﹕电快速瞬变脉冲群
CS﹕传导抗扰度
PMS﹕工频磁场抗干扰度
Surge﹕浪涌抗扰度
Dips﹕电压跌落/短时中断
ESD﹕静电抗扰度
认证测试
涉及标准范围
EN 55032:2015
EN 55035:2017
IEC62321
EN 61000-3-3:2013
EN IEC 61000-3-2:2019
主要评测项目
CE认证
ROHS认证
国产化认证
可靠性测试
涉及标准范围
GB/T 2423.1-2008
GB/T 2423.8-1995
GB/T 2423.17-2008
GB/T 2423.2-2008
GB/T 2423.10-2019
GB/T 19056-2012
GB/T 2423.22-2012
GB/T 2423.5-2019
主要评测项目